Sistem Diagnosis Kerusakan pada Iphone dengan Metode Dempster Shafer
Kata Kunci:
Dempster Shafer, Iphone, kerusakan, sistem pakar.Abstrak
Smartphone merupakan perangkat yang memiliki keunggulan dibandingkan alat komunikasi lainnya. Kerusakan Smartphone itu wajar dan normal, begitu juga dengan kerusakan iPhone, contoh kerusakan mulai baterai cepat habis, tidak ada gambar di layar, kamera tidak berfungsi dll. Namun, teknisi menghadapi kendala saat mendiagnosis cacat iPhone, yang mengakibatkan kinerja teknisi kurang optimal. Sistem pakar ini menggunakan metode Dempster-Shafer. Kesimpulan dibuat berdasarkan gejala kerusakan iPhone yang ada, dan frekuensi setiap gejala ditentukan oleh teknisi Smartphone. Dari perhitungan densitas terlihat kerusakan yang terjadi pada iPhone, sistem memiliki 20 gejala kerusakan dan 14 jenis kerusakan. Tujuan penelitian ini adalah untuk membantu teknisi menentukan kerusakan yang terjadi pada iPhone, yang akan memilih gejala dan memberikan hasil penelitian ini skor akurasi 90%.