Sistem Diagnosis Kerusakan pada Iphone dengan Metode Dempster Shafer

Sistem Diagnosis Kerusakan pada Iphone dengan Metode Dempster Shafer

Penulis

  • Yusril Iszha Eginata Fakultas Ilmu Komputer, Universitas Brawijaya
  • Nurul Hidayat Fakultas Ilmu Komputer, Universitas Brawijaya
  • Arief Andy Soebroto Fakultas Ilmu Komputer, Universitas Brawijaya

Kata Kunci:

Dempster Shafer, Iphone, kerusakan, sistem pakar.

Abstrak

Smartphone merupakan perangkat yang memiliki keunggulan dibandingkan alat komunikasi lainnya. Kerusakan Smartphone itu wajar dan normal, begitu juga dengan kerusakan iPhone, contoh kerusakan mulai baterai cepat habis, tidak ada gambar di layar, kamera tidak berfungsi dll. Namun, teknisi menghadapi kendala saat mendiagnosis cacat iPhone, yang mengakibatkan kinerja teknisi kurang optimal. Sistem pakar ini menggunakan metode Dempster-Shafer. Kesimpulan dibuat berdasarkan gejala kerusakan iPhone yang ada, dan frekuensi setiap gejala ditentukan oleh teknisi Smartphone. Dari perhitungan densitas terlihat kerusakan yang terjadi pada iPhone, sistem memiliki 20 gejala kerusakan dan 14 jenis kerusakan. Tujuan penelitian ini adalah untuk membantu teknisi menentukan kerusakan yang terjadi pada iPhone, yang akan memilih gejala dan memberikan hasil penelitian ini skor akurasi 90%.

Unduhan

Diterbitkan

06 Mar 2023

Cara Mengutip

Eginata, Y. I., Hidayat, N., & Soebroto, A. A. (2023). Sistem Diagnosis Kerusakan pada Iphone dengan Metode Dempster Shafer. Jurnal Pengembangan Teknologi Informasi Dan Ilmu Komputer, 7(2), 836–840. Diambil dari https://j-ptiik.ub.ac.id/index.php/j-ptiik/article/view/12330

Terbitan

Bagian

Artikel
Loading...